รุ่น TMS-2400 C Micro.View+ Compact
ที่ออกแบบตัวเครื่องให้มีขนาดกะทัดรัดเพื่อตอบโจทย์เรื่องพื้นที่หน้างานของลูกค้าที่มีอย่างจำกัด แต่ยังคงคุณสมบัติและความละเอียดในการตรวจสอบพื้นผิวที่ดีเยี่ยมในระดับ Sub-nano เทียบเคียงกับรุ่น TMS-2400 Micro.View+
 

Resolution of sup-nano < 1 nm , Scan up to 100 mm in the Z axis

The design is a compact system, Color information